檢測認證人脈交流通訊錄
- 快速掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的高分辨率原子力顯微鏡,Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內(nèi)部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構;同時可對樣品表面物理化學特性進行研究,數(shù)值測定與分析。
標準工作模式:輕敲模式(Vibrationmode),接觸模式(Contactmode),相位成像模式(Phaseimaging),橫向力模式(LFM),力曲線測試(ForceCurve),納米操控(Nanomanipulation),納米刻蝕(Nanolithography),力矩陣模式(ForceMapping),摩擦力測試(FrictionMode)
可選工作模式:導電原子力顯微鏡(C-AFM),磁力顯微鏡(MFM),靜電力顯微鏡(EFM),掃描電勢顯微鏡(SKPM)。
快速掃描探針顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現(xiàn)探針自動進針
X,Y,Z三軸分離的掃描器。
掃描范圍100×100×17μm
Z軸分辨率0.035nm
樣品臺尺寸:25mm*25mm*18mm
操作軟件:使用Laview環(huán)境語言控制,免費提供操作軟件,并提供維護及升級
提供GwyddionIMAGEANALYSISSOFTWARE數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)
頂視系統(tǒng)光學分辨率≤2微米
視場范圍從2mm*2mm到300um*300um可調(diào),放大倍率從45倍到400倍機械可調(diào)
側視系統(tǒng),提供可視化下針,可以通過電腦精確觀察控制下針過程,防止撞針
快速掃描探針顯微鏡如有需要歡迎訪問以下網(wǎng)址與我們?nèi)〉寐?lián)系
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