檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
- :::: 簡(jiǎn) 介: :::::::::::::::::::::::::::::::::::::
主要特點(diǎn)
1.偏振X光激發(fā)樣品,具有極低的背景,極佳的靈敏度
2.真正意義的Na-U的全分析,無(wú)需濾光片。
3.分析的含量范圍ppm級(jí)到100%
4.極為豐富的軟件系統(tǒng),提供各種方法及校正模式。
儀器介紹
SPECTRO XEPOS 臺(tái)式偏振X射線熒光光譜儀是德國(guó)斯派克分析儀器公司推出的新一代儀器。擴(kuò)展的偏振光學(xué)系統(tǒng)首次使用50W低能量的X射線管作為輻射源,用于Na-U元素的同時(shí)分析。從X射線管中發(fā)出的原始X射線通過(guò)高通量偏振光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行轉(zhuǎn)換,得到的完全偏振且部分單色的X射線可以高靈敏地測(cè)定各種元素。這種分析技術(shù)在許多應(yīng)用中不需要高吸收輻射的濾光片。
SPECTRO XEPOS可廣泛地應(yīng)用于石油、化工、冶金、礦業(yè)、制藥、食品、環(huán)保、地質(zhì)、建材、廢物處理以及再加工工業(yè)等。以油中各種元素的分析為例。使用SPECTO XEPOS,在氦氣保護(hù)狀態(tài)下,在300秒鐘之內(nèi),對(duì)于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的檢測(cè)下限在1-7µg/g以上。
XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分析,檢出下限低,靈敏度高、穩(wěn)定性好,可應(yīng)對(duì)歐洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083標(biāo)準(zhǔn)。
:::: 主要技術(shù)參數(shù): ::::::::::::::::::::::::::::::
1.功率50W,最大電壓50KV,最大電流2mA
2.50W端窗Pd靶X光管
3.硅漂移計(jì)數(shù)器,分辨率小于170eV
4.3位置次級(jí)靶自動(dòng)轉(zhuǎn)換系統(tǒng),即3束X激發(fā)光源
5.可選真空、充氣、常壓系統(tǒng)
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天津翔域時(shí)代有限公司
邢立祥
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