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掃描探針顯微鏡（SPM）-原子力顯微鏡（AFM）-近場光學(xué)顯微鏡（SNOM）--共聚焦拉曼光譜

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NTEGRA Spectra系統(tǒng)簡介：掃描探針顯微鏡的研究(1).pdf NTEGRA Spectra - AFM / CONFOCAL RAMAN & FLUORESCENCE / SNOM / TERS 它將原子力顯微鏡、掃描近場光學(xué)顯微鏡，激光共聚焦顯微鏡、熒光光譜和拉曼光譜等各種分析手段完美地結(jié)合到一起。借助于針尖增強(qiáng)拉曼散射效應(yīng)（TERS），其拉曼散射光譜和圖像測量的分辨率達(dá)到了50nm！ Confocal optical microscopy/spectroscopy system NTEGRA Spectra系統(tǒng)將激光共聚焦顯微鏡、拉曼光譜、光學(xué)顯微鏡和掃描探針顯微鏡完美結(jié)合，提供了熒光光譜與Raman散射的空間3D分布測量，而掃描探針顯微鏡也兼?zhèn)淞思{米壓痕、納米操縱和納米刻蝕加工等功能！ Scanning probe microscopy system NTEGRA Spectra在進(jìn)行光學(xué)觀測的同時(shí)，NTEGRA Spectra系統(tǒng)也可以通過多種模式對樣品進(jìn)行SPM表征，包括：原子力顯微鏡、磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡、掃描隧道顯微鏡、掃描近場光學(xué)顯微鏡、力曲線等等多大40種功能。這種獨(dú)有的設(shè)計(jì)將光學(xué)與探針方法聯(lián)合的設(shè)備，賦予了用戶對樣品同時(shí)進(jìn)行多種性能表征的能力，使得用戶可以觀測樣品的光學(xué)性質(zhì)、化學(xué)性能、電學(xué)性質(zhì)、力學(xué)性質(zhì)和磁學(xué)性質(zhì)等等！ NTEGRA Spectra系統(tǒng)的工作模式原子力顯微鏡（力學(xué)、電學(xué)、磁性質(zhì)等，納米操作等多大40種功能）掃描近場光學(xué)顯微鏡（透射、反射、收集、熒光）激光共聚焦顯微鏡、共聚焦拉曼成像、熒光成像、光學(xué)成像針尖增強(qiáng)拉曼散射-TERS（正置+倒置）掃描近場光學(xué)顯微鏡 ( SNOM / NSOM ) 環(huán)境控制：溫度、氣氛控制、液相操作、電化學(xué)環(huán)境、外加磁場不僅能將原子力顯微鏡-近場光學(xué)顯微鏡-光學(xué)顯微鏡-共聚焦顯微-拉曼光譜完美的聯(lián)用。此外每個(gè)功能還能單獨(dú)使用即提供了：獨(dú)立的AFM/獨(dú)立的SNOM/獨(dú)立的光學(xué)顯微鏡/獨(dú)立的共聚焦顯微鏡/獨(dú)立的拉曼光譜，所有功能都能在同一個(gè)軟件下實(shí)現(xiàn)聯(lián)用，并且能夠同時(shí)得到測量結(jié)果。為了更好的體現(xiàn)Ntegra 的擴(kuò)展性，該系統(tǒng)不但能和NT-MDT 的拉曼系統(tǒng)聯(lián)用，也同和市場上主流的拉曼進(jìn)行聯(lián)用，例如Renishaw，JY 等拉曼系統(tǒng)聯(lián)用。

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