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射頻LCR測試儀4287A 4285A 4286A 8903E

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品　　牌：

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出廠價：
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主要規(guī)格：
4287A 4285A 4286A 8903E

用　　途：

·1MHz～3GHz，以100KHz分檔 ·阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3KΩ ·在低測度信號電平上具有優(yōu)良的測量重復(fù)性 ·基本精度為1% ·高速測量9ms Agilent4287A射頻測試儀　　Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確，可靠和快速測量，以改進生產(chǎn)線上對電子元件進行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測量技術(shù)不同，采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進行精確測量。生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠　　4287A適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量非常快。此外，在小測試電流(100μA)優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程非常短。系統(tǒng)組建簡單　　測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件點測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能，高速GPIB處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。便于使用　　8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程?？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7 SMD測量夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作專用夾具。技術(shù)指標(biāo) （全面的技術(shù)指標(biāo)參見數(shù)據(jù)資料表）測量參數(shù)：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度）θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同時顯示4種測量參數(shù)）。測試頻率：1MHz～3GHz 頻率分辨力：100KHz 測試信號：V:4.47mV～502mV(f≤1GHz）; 4.47mV～447mv(f>1GHz) 　　　　 I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz) 電平監(jiān)視功能：電壓，電流基本的Z精度：±1.0% 測量范圍：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%) 測量時間：每點9ms（最高速） Rdc測量：可用于觸點檢查校準(zhǔn)：開路/短路/負載/低損耗電容量補償：開路/短路,電長度大容量存儲功能：30MB固態(tài)大容量存儲或2GB硬盤（選擇選件）接口：GPIB,:LAN(10Base-T/100Base-Tx自動選擇)，處理器接口顯示：8.4英寸彩色LCD顯示器一般指標(biāo) 電源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax 工作溫度/濕度:5℃～40℃,相對濕度20%～80% 尺寸：234mm高×425寬×445mm深（主機）重量：16kg/0.3kg（典型值）（主機/測試頭）主要技術(shù)資料 4287A射頻LCR測試儀產(chǎn)品介紹，p/n 5968-5443E 4287A技術(shù)指標(biāo)：p/n 5968-5758E LCR測試儀，阻抗分析儀和測試夾具選購指南，p/n 5952-1430E 訂貨信息 4287A射頻LCR測試儀供應(yīng)的附件：測試頭（1m），3.5～7mm適配器，16195B　APC-7校準(zhǔn)配件，鼠標(biāo)器，鍵盤，操作手冊和電源線（4287A不提供測試夾具）　　選件001　刪去16195B校準(zhǔn)工具箱　　選件002　刪去測試夾具座　　選件003　刪去3.5mm～7mm適配器　　選件004 增加工作標(biāo)準(zhǔn)套件　　選件010 硬盤驅(qū)動大容量存儲器　　選件011 固態(tài)大容量存儲器　　選件020　增加電纜延伸套件可提供的附件 16190B性能測試配件 16195B校準(zhǔn)工具箱 16191A側(cè)面電極夾具 16192A平行電極夾具 16193A小側(cè)面電極夾具 16194A高溫測試夾具 16196A用于1608(mm)的平行電極SMD夾具 16196B用于1005(mm)的平行電極SMD夾具 16196C用于0603(mm)的平行電極SMD夾具 16197A底面電極夾具

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朱松濤

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