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電子器件開封檢測
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對應(yīng)法規(guī):
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目:是
- GJB548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序方法5003 微電路的失效分析程序方法5009破壞性物理分析3.6去除封蓋程序GJB 1187A-2001 射線檢驗(yàn),GJB 4027A-2006軍用電子元器件破壞性物理分析方法工作項(xiàng)目:0101、0102工作項(xiàng)目:0201、0202、0203、0204、0207、0208、0210工作項(xiàng)目:0701、0702工作項(xiàng)目:1001、1002、1003工作項(xiàng)目:1101、1102、1103工作項(xiàng)目:1201
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