服務(wù)簡介

X 射線光電子能譜 (XPS)，也被稱為化學分析電子能譜 (ESCA)，是分析材料表面化學性質(zhì)的一項技術(shù)。 XPS 可測量材料中元素組成、經(jīng)驗公式、元素化學價態(tài)和電子態(tài)。 用一束 X 射線激發(fā)固體表面，同時測量被分析材料表面 1-10 nm 內(nèi)發(fā)射出電子的動能，而得到 XPS 譜。 通過對激發(fā)出的超過一定動能的電子進行計數(shù)，可以得到光電子譜。 光電子譜中出現(xiàn)的譜峰為原子中發(fā)射的一定特征能量電子。 光電子譜峰的能量和強度可用于定性和定量分析所有表面元素（氫元素除外）。