儀器名稱：

X射線殘余應(yīng)力分析儀

型號(hào)：

芬蘭Xstress-3000型X射線應(yīng)力分析儀

檢測(cè)項(xiàng)目：

殘余應(yīng)力

應(yīng)用范圍：

測(cè)定鋼鐵、鈦合金、鋁合金等晶體材料或小構(gòu)件的殘余應(yīng)力

制樣要求：

塊狀、薄膜樣品要求：測(cè)試面需標(biāo)明，表面清潔平整，也可板狀、片狀或絲狀，帶基材的鍍層等原始形狀，不超過(guò)長(zhǎng)4cm，寬4cm，高0.5cm，長(zhǎng)寬最好1cm以上。

特殊樣品：對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常，需提供測(cè)試方向。

樣品上標(biāo)明測(cè)試位置，測(cè)試方向及角度。