振動測試 振動測試標(biāo)準(zhǔn) 振動試驗檢測報告:

  深圳市賽特檢測有限公司（簡稱STT）是國內(nèi)較早開展環(huán)境可靠性工程檢測技術(shù)的研究與應(yīng)用的專業(yè)第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)，經(jīng)過十?dāng)?shù)年的發(fā)展，已成為集環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、包裝運輸測試、材料測試、電磁兼容測試、安規(guī)、失效分析、理化檢測等項目為一體的綜合性檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)?，F(xiàn)有規(guī)模、測試能力和水平處于國內(nèi)檢測機(jī)構(gòu)的領(lǐng)先水平，并培養(yǎng)出一批高素質(zhì)檢測工程師人員，積累了豐富的檢測經(jīng)驗。

 振動試驗對產(chǎn)品、設(shè)備、工程等在運輸、使用等環(huán)境中所受的振動環(huán)境進(jìn)行模擬，以檢驗其可靠性以及穩(wěn)定性。機(jī)械振動試驗用來確定機(jī)械的薄弱環(huán)節(jié)，產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的完好性和動態(tài)特性、常用于型式試驗、壽命試驗、評價試驗和綜合試驗。對于汽車電子耐振動能力更為重要。

振動試驗類型主要分為:

 1)環(huán)境適應(yīng)性試驗:通過選用試驗對象未來可能承受的振動環(huán)境去激勵對象，檢驗其對環(huán)境的適應(yīng)性。

 2)動力學(xué)強(qiáng)度試驗:考核試驗對象結(jié)構(gòu)的動強(qiáng)度，檢驗在給定的試驗條件下試件是否會產(chǎn)生疲勞破壞，這類試驗的對象主要是結(jié)構(gòu)件。

 3)動力特性試驗:用試驗的方法測試出對象的動特性參數(shù)，如振型、頻率、阻尼等。

 4)其他試驗:如振動篩選試驗，其目的是對生產(chǎn)線上的元器件、組件、整機(jī)進(jìn)行振動篩選，找出工藝中的薄弱環(huán)節(jié)，剔出低質(zhì)量的產(chǎn)品從而提高整個產(chǎn)品的可靠性。

振動又分為正弦振動、隨機(jī)振動、復(fù)合振動、掃描振動、定頻振動。最常使用振動方式可分為正弦振動(Sine vibration)及隨機(jī)振動(Random vibration)兩種。

正弦振動以模擬海運、船艦使用設(shè)備耐振動能力驗證以及產(chǎn)品結(jié)構(gòu)共振頻率分析和共振點駐留驗證為主。正弦定頻試驗 ：在選定的頻率上（可以是共振頻率，特定頻率，或危險頻率）按規(guī)定的量值進(jìn)行正弦振動試驗，并達(dá)到規(guī)定要求的時間。正弦掃頻試驗：在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)，按規(guī)定的量值以一定的掃描速率由低頻到高頻，再由高頻到低頻作為一次掃頻，直到達(dá)到規(guī)定的總次數(shù)為止。

隨機(jī)振動則以產(chǎn)品整體性結(jié)構(gòu)耐振動強(qiáng)度評估以及在包裝狀態(tài)下運輸環(huán)境模擬。。隨機(jī)振動環(huán)境條件假定振動響應(yīng)為各態(tài)歷經(jīng)平穩(wěn)隨機(jī)過程,采用功率譜密度矩陣定義振動條件,矩陣的階數(shù)等于試驗控制的界面自由度數(shù)量。譜密度矩陣的對角項是傳統(tǒng)單軸振動試驗中采用的描述一維隨機(jī)振動環(huán)境的自譜密度函數(shù),它同時也規(guī)定了相應(yīng)振動方向的均方根加速度值,自譜密度的定義可以遵循現(xiàn)有的環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn),使用外場測量包絡(luò)以覆蓋產(chǎn)品在使用過程中可能出現(xiàn)的所有振動過程。非對角項是復(fù)數(shù)形式的互譜密度函數(shù),反映了不同自由度的振動響應(yīng)之間的相關(guān)程度,從外場數(shù)據(jù)規(guī)定合理的互譜是相當(dāng)困難的,特別是尚無可接受的包絡(luò)程序綜合不同振動過程的影響,工程中一種近似處理方法是用相干函數(shù)規(guī)定互譜的幅值,而以[0,2π]均勻分布的隨機(jī)變量表示其頻域的相位。相干函數(shù)可以采用與自譜定義相對應(yīng)的平均或包絡(luò)處理,反映了空間運動的某種方向性。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GJB150《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法》

GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法214隨機(jī)振動試驗

GJB4.7-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 振動試驗》

GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》

GB/T2423GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》