低溫試驗的目的是確定軍民用設備在低溫條件下儲存和工作的適應性。

低溫試驗的標準有：

GJB150.4-86

GB11606.3-89

GB2423.1-89

GB/T 2424. 1-2005

IEC 60068-3-1:1974

目前能進行低溫試驗的實驗室有賽特檢測等。

用途:用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實驗及儲存。

低溫試驗用于考核產品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性，常用于產品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的篩選試驗。

低溫試驗的技術指標包括：溫度、時間、上升速率。

注意產品從低溫箱取出時由于溫度突變會產生冷凝水。（對溫度循環(huán)、溫度沖擊、濕熱試驗均適用）

樣品放入試驗箱內為保持樣品表面溫度的均勻性，樣品距離箱壁的距離最少為5cm

GB/T 2423.1中低溫的試驗方法分：散熱樣品的溫度漸變，非散熱樣品的溫度漸變

試驗結束后需要將樣品在箱體內恢復至穩(wěn)定狀態(tài)，或將樣品放置在常溫常濕環(huán)境下進行恢復至穩(wěn)定狀態(tài)，在特定環(huán)境下會要求對樣品吹稍熱的風進行解凍再進行升溫至穩(wěn)定狀態(tài)。