檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
這真不是您需要的服務(wù)?
SEM:利用陰極所發(fā)射的電子束經(jīng)陽極加速,由磁透鏡加速后形成一束直徑為幾十埃到幾千埃的電子束流,這束高能電子束轟擊到樣品表面會激發(fā)多種信息,經(jīng)過分別收集,放大就能從顯示屏上得到各種相應(yīng)的圖像。
EDS:入射電子束可停留在被觀察區(qū)域上的任何位置.X射線在直徑1微米的體積內(nèi)產(chǎn)生,可對試樣表面元素的分布進行質(zhì)和量的分析,高能電子束轟擊樣品表面,激發(fā)各種信號。
可以對陶瓷、金屬、粉末、塑料等樣品進行形貌觀察及成分分析:
?SEM主要利用背散射電子(BEI)和二次電子(SEI)來成像。
?EDS通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息。
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