GRGT環(huán)境可靠性試驗中心實驗設(shè)備能按IEC、MIL、ISO、GB、GJB等各種標準或用戶要求進行高溫、低溫、溫度沖擊（氣態(tài)及液態(tài)）、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、高壓蒸煮、砂塵、耐爆炸、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、霉菌、淋雨、太陽輻射、光老化等。 

電連接器和插座

低溫

電連接器低溫試驗EIA/ECA-364-59A-2006

高溫

電連接器高溫壽命EIA-364-17B-1999

高溫儲存壽命JESD 22-A103D-2010

高溫偏壓工作壽命JESD 22-A108D-2010

機械沖擊

機械沖擊JESD 22-B104C-2004

電連接器跌落沖擊試驗EIA-364-27B-2004

零部件機械沖擊JESD 22-B110A-2004

跌落

電連接器跌落沖擊試驗EIA-364-42B-1999

振動

連接器的振動試驗EIA-364-28E-2006

變頻振動 JESD 22-B103B-2002

濕熱

連接器的耐濕試驗EIA-364-31B-2000

穩(wěn)態(tài)濕熱偏壓壽命測試JESD 22-A101C-2009

THB循環(huán)壽命試驗JESD 22-A100C-2007

鹽霧

連接器的鹽霧腐蝕試驗EIA-364-26B-1999

鹽霧 JESD 22-A107B-2004

熱沖擊

連接器的熱沖擊試驗EIA-364-32D-2006

溫度循環(huán)JESD 22-A104D-2009

熱沖擊JESD 22-A106B-2004