C-SAM檢測主要使用于封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)的分析,因為它能提供IC封裝因水氣或熱能所造成破壞分析,例如裂縫、空洞和脫層；C-SAM內(nèi)部造影原理為電能經(jīng)由聚焦轉(zhuǎn)換鏡產(chǎn)生超聲波觸擊在待測物品上,將聲波在不同接口上反射或穿透訊號接收后影像處理,再以影像及訊號加以分析.其主要是針對半導體器件 ,芯片,材料內(nèi)部的失效分析．其可以檢查到:1.材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu),雜質(zhì)顆粒．夾雜物．沉淀物．2. 內(nèi)部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等.

近年來,超聲波掃描顯微鏡(C-SAM)已被成功地應用在電子工業(yè),尤其是封裝技術(shù)研究及實驗室之中.由于超音波具有不用拆除組件外部封裝之非破壞性檢測能力,故C-SAM可以有效的檢出IC構(gòu)裝中因水氣或熱能所造成的破壞如﹕脫層、氣孔及裂縫…等. 超聲波在行經(jīng)介質(zhì)時,若遇到不同密度或彈性系數(shù)之物質(zhì)時,即會產(chǎn)生反射回波.而此種反射回波強度會因材料密度不同而有所差異.C-SAM即最利用此特性來檢出材料內(nèi)部的缺陷并依所接收之訊號變化將之成像.因此,只要被檢測的IC上表面或內(nèi)部芯片構(gòu)裝材料的接口有脫層、氣孔、裂縫…等缺陷時,即可由C-SAM影像得知缺陷之相對位置.

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環(huán)境可靠性測試：1.其中氣候環(huán)境包含：高溫試驗，低溫試驗，交變溫濕熱（溫變1-2℃/min)，快速溫度循環(huán)試驗（溫變最快20℃/min），溫度沖擊試驗，高溫高濕試驗，恒定濕熱試驗，低溫低濕試驗，高溫低濕試驗，鹽霧腐蝕試驗，IP等級測試（防塵試驗IP1X-6X、防水試驗IPX1-X7）等等；

2.其中機械環(huán)境包含：振動試驗（隨機振動，正掃頻振動，定頻振動），模擬汽輸車運試驗，碰撞試驗，機械沖擊試驗（半正弦波、方波、后峰鋸齒波），跌落試驗,G值跌落，滾筒跌落試驗（0.5m和1m)，斜面沖擊試驗，堆碼壓力,C-SAM超聲掃描檢測等等；深圳市中天檢測技術(shù)有限公司

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