射線在穿透物質(zhì)的過程中會與物質(zhì)發(fā)生相互作用，因吸收和散射而使其強(qiáng)度減弱。強(qiáng)度衰減程度取決于物質(zhì)的衰減系數(shù)和在物質(zhì)中穿越的厚度。如果被透照物體(試件)的局部存在缺陷，且構(gòu)成缺陷的物質(zhì)的衰減系數(shù)又不同于試件，該局部區(qū)域的透過射線強(qiáng)度就會與周圍產(chǎn)生差異，只要采取一定的探測器(如圖1中所示的膠片)來探測出這種射線強(qiáng)度的差異，把膠片放在適當(dāng)位置使其在透過射線的作用下感光，經(jīng)暗室處理后得到底片。底片上各點的黑化程度取決于射線照射量，由于缺陷部位和完好部位的透射射線強(qiáng)度不同，底片上相應(yīng)部位就會出現(xiàn)黑度差異。把底片放在觀片燈上觀察，就可以看到由不同黑度區(qū)域組成的不同形狀的影像，評片人員據(jù)此判斷缺陷情況并評價試件質(zhì)量。