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對(duì)應(yīng)法規(guī):掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM)
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目:是
- 超聲波在介質(zhì)中傳輸時(shí),若遇到不同密度或彈性系數(shù)的物質(zhì),會(huì)產(chǎn)生反射回波,而此種反射回波強(qiáng)度會(huì)因材料密度不同而有所差異,掃描聲學(xué)顯微鏡利用此特性來(lái)檢出材料內(nèi)部缺陷并依所接收的信號(hào)變化將之成圖像。超聲波能穿透密集的和疏松的固體材料,對(duì)于內(nèi)部存在的空氣層非常的敏感,空氣層能阻斷超聲波的傳輸。確定焊接層、粘接層、填充層、涂鍍層、結(jié)合層的完整是SAM獨(dú)特的性能。
掃描聲學(xué)顯微鏡的頻率范圍為1~500MHz,空間分辨率達(dá)0.1μm,掃描面積達(dá)(0.25~300mm)2,能完成超聲波傳輸時(shí)間測(cè)量(A-Scan),縱向截面成像(B-Scan),X/Y二維成像(C,D,G,X-Scan)和三維掃描與成像。
掃描聲學(xué)顯微鏡常用于檢測(cè)電子元器件、材料及PCB/PCBA內(nèi)部的各種缺陷(如裂紋、分層、夾雜物、附著物及空洞等)。
深圳市帆泰檢測(cè)技術(shù)有限公司
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