序號(hào)

檢測手段

服務(wù)項(xiàng)目

1

輝光放電質(zhì)譜（GDMS）

金屬材料中ppb級及其以上含量的雜質(zhì)元素分析，可以檢測5N、6N高純鋁、銅、鋅、鎳、鈷以及多晶硅材料中的痕量和超痕量雜質(zhì)元素。

2

電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）

高純金屬、半導(dǎo)體材料、塑料、藥品、食品、生物制品中的痕量多元素測定。該儀器可與氫化物發(fā)生器聯(lián)機(jī)使用，使被測元素測定下限降低1~2個(gè)數(shù)量級；與稀土微柱分離裝置聯(lián)用，能夠在線去除稀土基體，使被測稀土雜質(zhì)的測定下限降低2~3個(gè)數(shù)量級。

3

電感耦合等離子體發(fā)射光譜（ICP-AES）

金屬材料中微量、常量雜質(zhì)元素的分析，如銅合金、鋁合金、稀土金屬、稀有難熔金屬、電子材料等，充分利用該儀器可以提供全波長覆蓋的分析譜圖，具有多元素同時(shí)測定的功能。

4

直流電弧原子發(fā)射光譜(DC-AES)

各類有色純金屬、合金或金屬化合物中雜質(zhì)元素的定量分析，各類有色金屬元素的定性分析。

5

火花源光電直讀光譜(Spark-OES)

鋁合金、銅合金、鎂合金和鈦合金中的合金元素和微量元素，以及低碳、低硫、低磷和低氮元素分析

6

X射線熒光光譜（XRF）

金、銀、鉑首飾的定量分析、金屬材料的定性、半定量分析

7

原子吸收光譜(AAS)

金屬材料中堿金屬和堿土金屬元素分析

8

原子熒光光譜（AFS）

適用于As、Sb、Hg、Se、Pb、Bi、Sn、Ge、Te、Cd、Zn等十一種元素痕量水平的日常監(jiān)測

9

離子色譜（IC）

金屬材料中的陰離子的分析。同時(shí)，該儀器可以進(jìn)行有色金屬材料中雜質(zhì)的分離富集，并與質(zhì)譜聯(lián)用，進(jìn)一步提高ICP-MS的選擇性和靈敏度，并有效地降低其檢出限，該技術(shù)正逐步應(yīng)用于國家標(biāo)準(zhǔn)分析方法。

10

氫測定儀

金屬材料中氫含量的測定，可以檢測試樣中低至百萬分之一的氫。

11

氧氮測定儀

金屬材料中的O、N的測定

12

碳硫測定儀

金屬材料中的C、S的測定

13

自動(dòng)電位滴定儀

部分金屬材料中主成分的測定

14

微波消解工作站

陶瓷材料、貴金屬、難溶金屬等的溶解