TEM樣品制備

       在材料科學(xué)的研究中，TEM樣品制備在電子顯微學(xué)研究工作中，起著至關(guān)重要作用，是豐常精細(xì)的技術(shù)工作。要想得到好的TEM結(jié)果，首先要制備出好的薄膜樣品。

       TEM樣品制備在電子顯微學(xué)研究中起著非常重要的作用，傳統(tǒng)的常規(guī)制備方法有很多，例如：化學(xué)減薄，電牌雙噴，解理、超薄切片.粉碎研磨、FIB聚焦高子束，機(jī)械減薄、離子減薄，這些方法都能制備出比較好的薄膜樣品，

TEM樣品類(lèi)型∶

• 塊狀：用于普通微結(jié)構(gòu)研究；
• 平面-用于薄膜和表面附近微結(jié)構(gòu)研究；
• 橫截面樣品：均勻薄膜和界面的微結(jié)構(gòu)研究；
• 小塊物體∶ 粉末，纖維，納米量級(jí)的材料。

我們的TEM樣品制備能力：

• 非定點(diǎn)TEM樣品制備(截面, Si)；
• 定點(diǎn)TEM樣品制備(截面, Si)；
• 非定點(diǎn)TEM樣品制備(平面, Si)；
• 定點(diǎn)TEM樣品制備(平面, Si)；
• 非定點(diǎn)TEM樣品制備(截面, Non-Si)；
• 定點(diǎn)TEM樣品制備(截面, Non-Si)；
• 非定點(diǎn)TEM樣品制備(平面, Non-Si)；
• 定點(diǎn)TEM樣品制備(平面, Non-Si)