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TEM測試_TEM檢測_透射電鏡_服務(wù)
這真不是您需要的服務(wù)？
- 原理 透射電子顯微鏡（縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角 散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。 儀器技術(shù)參數(shù) - TWIN物鏡系統(tǒng), 點分辨率 0.27nm - 樣品最大傾角 +/- 70° - Cryo液氮冷凍樣品臺及冷凍轉(zhuǎn)移設(shè)備 - 全自動化的數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) 送樣要求 粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm. 應(yīng)用領(lǐng)域 金屬、非金屬及復(fù)合材料的觀察分析； 納米粉及納米粉體的形貌觀察和粒度測量統(tǒng)計； 微區(qū)成分的定性、定量計算，并對重點區(qū)域做元素分布圖； 可對固體材料的表面涂層、鍍層進行結(jié)合情況觀察和厚度測量； 機械設(shè)備、壓力容器、管道及汽車零件的失效分析。 適用標準 專業(yè)、高效、精準、高性價比是劑拓公司的服務(wù)宗旨。
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